Informations
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Secrétariat: JISC (Japon)Manager du comité:
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Président(e) (jusqu'à fin 2030):Dr Toshiyuki Fujimoto
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Responsable de programmes techniques ISO [TPM]:Responsable éditorial ISO [EM]:
- Date de création: 2016
Domaine des travaux
Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.
Liens utiles
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Espace de travail
Documents de travail (compte utilisateur nécessaire) -
Applications électroniques ISO
Outils TI pour l'élaboration des normes
Ce comité contribue avec 4 normes auxObjectifs de développement durable suivants :
Comités en liaison depuis le ISO/TC 201/SC 10
ISO/TC 201/SC 10 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :
| Référence | Titre | ISO/CEI |
|---|---|---|
| ISO/TC 147 | Qualité de l'eau | ISO |
| ISO/TC 202 | Analyse par microfaisceaux | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
| Date | Mois | Lieu | TC/SC | Note |
|---|---|---|---|---|
| 3 | Novembre 2026 | Kelowna (Canada) | ISO/TC 201/SC 10 |
* Information définitive mais réunion pas encore convoquée
** Provisoire
ISO/TC 201/SC 10 - Secrétariat